VDM Bobisch, C: Mikroskopie mit ballistischen Elektronen

Die Lebensdauer elektronischer Bauteile, durch die ein elektrischer Strom fliesst, wird im Wesentlichen durch die dabei deponierte Energie bestimmt, da diese fast vollständig in Wärme umgewandelt wird und mit der Zeit das Bauteil zerstört. Daher sucht man Wege, den elektrischen Widerstand und die damit verbundene Wärmeaufnahme zu minimieren. Eine Möglichkeit könnte sein, elektrische Bauteile mit ballistisch transportierten Ladungsträgern zu betreiben, die sich in den Bauelementen quasi widerstandsfrei, also ohne Energieverlust bewegen. Ein weiterer Schritt in Richtung zukünftiger Bauelemente liegt in der Verwendung organischer Moleküle. Dünne Schichten dieser Moleküle lassen sich sehr einfach in einem Druckverfahren auf Oberflächen aufbringen. Die vorgestellte Arbeit beschäftigt sich mit einer bildgebenden Analysemethode von ballistischen Stromleitungsprozessen auf atomarer Skala. Dabei werden Ladungsträger detektiert, die sich ballistisch durch eine kleine Struktur, wie z.B. ein Molekül, bewegt haben. Die Messung des Stroms dieser ballistischen Elektronen mit extrem hoher räumlicher Auflösung erlaubt es, Strompfade zu lokalisieren, die einem äusserst geringen Widerstand haben.