VDM Faltermeier, D: Ellipsometrie an Pentacen und Tetracen Dünnf

Die vorliegende Arbeit stellt erstmalig ellipsometrische Untersuchungen der intrinsischen, optischen Eigenschaften von triklinen Pentacen- und Tetracen-Einkristallen entlang deren kristallographischen Achsen vor. Dabei wurden die dielektrischen Funktionen eps1 und eps2 für Pentacen und Tetracen in Richtung der kristallographischen Achsen bestimmt. Die optischen Spektren erlauben einen direkten Vergleich mit dielektrischen Funktionen aus theoretischen Bandstrukturrechnungen. Die Arbeit gibt erstmalig einen umfassenden Überblick über die optischen und strukturellen Eigenschaften eines der aussichtsreichsten Kandidaten für zukünftige organische Feldeffekttransistoren. Mit der Beschreibung des vollständigen Dielektrizitätstensors erschliesst die Methode ein neues Feld der optischen Charakterisierung monokliner und trikliner Kristalle. Zusätzlich zu den Kristallen wurden Dünnfilme dieser Materialien untersucht.